圓偏振光熒光光譜儀CPL有哪些類選和特點呢？

　　圓偏振光熒光光譜儀CPL具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分(fēn)析B(5)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體(tǐ)、粉末、熔融片，液體(tǐ)等，分(fēn)析對象适用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無标半定量方法可以對各種形狀樣品定性分(fēn)析，并能給出半定量結果，結果準确度對某些樣品可以接近定量水平，分(fēn)析時間短。薄膜分(fēn)析軟件FP-MULT1能作鍍層分(fēn)析，薄膜分(fēn)析。測量樣品的最大(dà)尺寸要求爲直徑51mm，高40mm。

　　X射線熒光光譜采用晶體(tǐ)或人工(gōng)拟晶體(tǐ)根據Bragg定律将不同能量的譜線分(fēn)開(kāi)，然後進行測量。波長色散X射線熒光光譜一(yī)般采用X射線管作激發源，可分(fēn)爲順序式(或稱單道式或掃描式)、同時式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時式相結合的譜儀三種類型。順序式通過掃描方法逐個測量元素，因此測量速度通常比同時式慢(màn)，适用于科研及多用途的工(gōng)作。同時式則适用于相對固定組成，對測量速度要求高和批量試樣分(fēn)析, 順序式與同時式相結合的譜儀結合了兩者的優點。

　　分(fēn)析對象主要有各種磁性材料(NdFeB、SmCo合金、FeTbDy)、钛鎳記憶合金、混合稀土分(fēn)量、貴金屬飾品和合金等，以及各種形态樣品的無标半定量分(fēn)析，對于均勻的顆粒度較小(xiǎo)的粉末或合金，結果接近于定量分(fēn)析的準确度。X熒光分(fēn)析快速，某些樣品當天就可以得到分(fēn)析結果。适合課題研究和生(shēng)産監控。